近赤外分光分析器SentroPAT FOは、医薬品製造の特に固形製剤工程をリアルタイムに分析するNIR測定器です。製造工程の各所に取り付けて物理的パラメータ、化学的パラメータを分析します。
ハードウエアは、最大 4 チャネルのNIR検出部と、光学ファイバとケーブルで接続されたプローブで構成されています。
ソフトウエアは、監査証跡機能、ユーザ管理機能、検査結果の出力などの医薬品製造工程が要求する仕様を満たした実績があるパッケージです。完成されたPATソリューション、さらに顧客の要望に対応したカスタマイズ・ソリューションを提供します。
SentroPAT FOは固形剤医薬品の製造プロセスを直接モニタリングするためのコンパクトな分析器です。
迅速かつ容易に既存の生産設備やプロセスに統合することができる非常に汎用性の高いシステムです。
造粒、乾燥、混合、打錠、コーティングなどのすべてのプロセスに非常に貴重な洞察を提供しています。 それは、正確な材料に関するデータ、プロセスの進行状況、製品の均一性、理想的な工程終点を提供します。
高速測定と高い堅牢性の組合せ、革新的なプローブ技術はプロセス改善の理解と測定のための非常に信頼性の高いツールとしてご使用頂けます。
赤外分光法は、実験室で使用実績がある最も汎用性が高いPAT技術です。それは粒子計測装置無しで、物理的·化学的プロセスの両方のパラメータを取得する為に使用することができます。
このダイオードアレイ技術を用いたNIR測定は、精度を損なうことなく、高速で移動する試料を分析するのに理想的です。測定はミリ秒単位で行うことが可能です。また、サンプル情報が十分ではないスペクトルを迅速に除去可能です。
最低限のメンテナンスと時間的・金銭的なコスト削減を目指しました。
システムは、長期間安定して動作するために継続的かつ自動的にすべての主要な機器パラメータを監視することができます。
唯一、必要なメンテナンスは1~2年に1回の光源交換です。交換作業は非常に容易なので、特別なツールやスキルがなくても可能です。
実際に製造工程で使用する前に、研究室で検量線を作成する必要がございます。
SentroPAT FOを、研究室で使用して検量線作成を行えば、研究室スケールでも生産スケールでも全く同じNIR分析装置を使用することができ、スケールアップも容易に対応可能です。
NIR測定に長きに渡り従事してきたSentronicは、多くのお客様の多くのプロジェクトのために、製品の始めから終りまで、完全準拠のドキュメントを提供して参りました。私たちは顧客にとって、経験豊富な、柔軟性のあるパートナーになります。我々は、各顧客の特定ニーズや要請を理解し、それぞれのPATプロジェクトの課題に対するあつらえの回答を提案致します。
これらの経験をもとに日々アップグレードされるNIR分析装置は多くのユーザの目的に一致するよう対応が可能です。
セントロニックはコンパクトな組織であり、ハードウエアからソフトウエアの開発まですべて自社にて行います。
要望に合わせたオーダーメイドな対応を迅速に実現致します。
迅速な対応、専門的なアドバイスをご提供できるよう心がけております。
SentroPAT Analyzer | |
テクノロジー |
マルチプレックス・ダイオードアレイ分光器 測定チャネル x 4 |
波長範囲 | 1100-2100 nm (1150 - 2100 nm 仕様範囲) |
波長精度 | ± 1 nm (1150 - 2150 nm 仕様範囲) |
システムノイズ | < 50 µAU RMS within 1150 - 2150 nm at 1 s measurement |
内蔵PC | OS: Windows 7 professional CPU: Intel Atom |
通信 |
Ethernet (OPC, TCP/IP, SiPAT) |
ハウジング |
GmPに準ずる滑らかな表面 IP 65 / NEMA 4 |
寸法 | 160 x 220 x 240 mm |
使用環境 |
室温:10° ... 30°C 湿度:10 % ... 90 % |
SentroProbe | |
スポットサイズ | Φ 5 mm / 表面 20 mm² |
光源 |
2 本の5 Wバルブを内蔵 (冗長化の為) ランプモジュールは簡単に交換可能 ランプ寿命は約 14,000 時間 |
内蔵リファレンス |
内蔵マイクロ・メカニカル白色リファレンス (プロセスウィンドウの直後に装着) |
プロセスウインドウ | サファイアガラスウインドウ |
プローブシャフト | Φ 3/4" (19 mm)、長さ 65、100、200、300、500 mm 選択可能 |
承認 | ATEX指令 20 / 21、CE |
自己監視 |
内蔵コントローラをセンサでプローブの機能と状態を監視 |
使用環境 |
プローブ先端:0° ... 80°C probe tip CIP工程:最高150°C |
Software interfaces | |
前処理データ |
不要なスペクトルを除去、数学的な前処理、ノイズ監視 |
Analyzer management |
正常状態を監視、データセキュリティー、ユーザー管理、監査証跡 |
ケモメトリックスソフトウエア | Unscrambler、SIMCA、GRAMS、Calibration Workshop |
テクノロジー | .NET based application |
通信プロトコル |
Ethernet based TCP-IP, OPC-Server, SiPAT driver (Siemens) 詳しくはお問い合わせください。 |